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    x熒光光譜儀的測試步驟介紹

    更新時間:2022-08-09瀏覽:1928次

       X熒光光譜儀是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下,被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。

     
      x熒光光譜儀在陽光直射的高溫,高日照量的情況下也能保持高性能的特點,這得益于儀器設計中充分考慮低功耗及X射線管高溫的及時排放,所以它可承受惡劣的工作環境。X熒光光譜儀的測試步驟:
     
      (1)選擇分析方法與制樣方法。分析方法一般有基本參數法、半基本參數法、經驗系數法等,制樣方法一般有拋光法、壓片法、濾紙片法和熔片法,常用粉末壓片法制樣,采用基本參數法測試。
     
      (2)將制備好的樣片裝進樣品杯,放入樣品交換器中,自動進樣至樣品室,X射線管發出原級X射線照射樣品,激發出待測元素的熒光X射線。
     
      (3)樣品輻射出的熒光X射線通過分光晶體,將X射線熒光光譜色散成孤立的單色分析線,由探測器測量各譜線的強度,根據選用的分析方法換算成元素濃度,得到樣品中待測元素含量。
     
      (4)生產廠家建議定期清理空氣濾網,避免積灰,保持良好的散熱效果
     
      (5)定期邀請廠家安排專門的工程師上門進行年檢,排除問題隱患
     
      還需要特別注意的一點就是,切勿因好奇心理去觸碰檢測器鈹窗,以免破壞核心部件。

     

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